所屬學(xué)科組：成礦大地構造學(xué)科組
實(shí)驗室負責人： 朱明帥 博士、副研究員
辦公地址： 地6樓419
聯(lián)系電話(huà)：010-82998561
電子信箱：zhumingshuai@mail.iggcas.ac.cn
實(shí)驗室概況
掃描電子顯微鏡應用在地質(zhì)、礦產(chǎn)、地球物理等各個(gè)領(lǐng)域。通過(guò)掃描電鏡可以獲取直觀(guān)的巖石、礦產(chǎn)晶體等樣品的形貌信息，有利指導科研的前進(jìn)方向。本實(shí)驗室購置的桌面式掃描電子顯微鏡的儀器采用簡(jiǎn)潔的小型化設計，使得掃描電鏡的安裝條件要求及操作的便利性達到最方便的程度，可適用于老師學(xué)生隨時(shí)隨地地進(jìn)行樣品的測試，無(wú)需專(zhuān)業(yè)的操作技能和培訓。雖然采用了小型化設計，但它的性能和配置都能達到大電鏡的主要功能。平臺在掃描電子顯微鏡( SEM) 上配置EBSD, 結合X-光能譜分析儀(EDS) , 使科研人員可以在微區范圍內對礦物相同時(shí)進(jìn)行結構、成分和晶體取向分析, 獲取原位礦物學(xué)和巖石學(xué)信息。
儀器設備：Phenom XL桌面式掃描電子顯微鏡搭載Phenom XL能譜儀
地址：地6樓416室
主要技術(shù)指標：
1. 電鏡探測器為高靈敏四分割背散射電子探測器，電子放大倍率≤100,000倍，分辨率≤14nm，電子光學(xué)探測器為高靈敏四分割背散射電子探測器。
2. EDS 探測器元素探測范圍：B（5）-Am（95），能量分辨率為123eV（Mn Ka），探測器窗口為Si3N4窗口。
工作內容：
（1）背散射圖像觀(guān)察（BSE）
（2）礦物能譜分析及能譜掃面
收費標準：400元/小時(shí)
聯(lián)系方式：
朱明帥 電話(huà)：010-82998561
